

| 発光分析装置 | 発光分析装置 PDA-5500 IIシリーズ |
| X線回折装置 | X線回折装置 XRD-6100 |
| X線回折装置 XRD-700S/7000L |
| 蛍光X線分析装置 | エネルギー分散型 蛍光X線分析装置 EDX-HSシリーズ EDX-700HS/800HS/900HS |
| エネルギー分散型 微小部蛍光X線分析装置 µE DX-HSシリーズ µE DX-1200/1300/1400 |
|
| シーケンシャル型 蛍光X線分析装置 XRF-1800 | |
| 同時形 蛍光X線分析装置 MXF-2400 |
| 表面観察装置 | 走査型プローブ顕微鏡 SPM-9500J3 |
| 雰囲気制御走査型顕微鏡 WET-SPMシリーズ | |
| 走査電子顕微鏡 SS-550/SSX-550 | |
| 走査型共焦点レーザ顕微鏡 OLS1200シリーズ | |
| 走査型共焦点レーザ顕微鏡 OLS3000シリーズ |
| 表面構造解析装置 | 電子線マイクロアナライザ EPMA-1600/1610 |
| KRATOS イメージングX線光電子分析装置 AXIS-NOVA | |
| KRATOS X線光電子分析装置 ESCA-3400 | |
| KRATOS イメージングX線光電子分析装置 AXIS-ULTA | |
| KRATOS イメージングX線光電子分析装置 AXIS-HSi |